时间：2025年7月18日
地点：科研楼18号楼808教室
主持人：谭小地教授
主持人简介：
谭小地，山东大学理学学士、北京理工大学工学硕士、东京大学工学博士。曾在日本信息系统设计、OPTWARE、SONY任职，2012年在北京理工大学任教授，2018年调入本校光电与信息工程学院教授、博士生导师。国际光学工程学会会士（Fellow），中国光学学会和中国光学工程学会理事，美国光学学会高级会员。研究方向为信息光子学,发表论文200多篇、国际会议邀请报告50余次、合作著书1本、已公开专利15项。曾获国家科技进步三等奖1项，SONY研发总部部门长赏1次。现主持科技部重点研发计划1项，曾主持国家自然科学基金1项、863项目3项以及其它横向项目多项。
研讨会简介：
本次全息材料老化寿命测试会议于7月18日举行，会议由谭小地教授主持，上午将依次进行实验室参观、科研报告听取及报告内容研讨修改等环节，以深化对测试的理解，团队将据此拟定测试大纲，并严格检定测试仪器，保障测试条件完备。下午将开展现场测试，测试完成后迅速整理并出具测试报告，为全息材料老化寿命的评估提供科学依据，助力项目稳步推进。
